東レエンジニアリング
先端半導体MIテクノロジー株式会社
について

ナノ技術で半導体検査・計測の
新世界を創造

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電子線式半導体ウェーハパターン
検査装置

設計データとSEM画像との比較を行う
「Die to Database アルゴリズム」の採用により、
先端半導体デバイス製造におけるシステマティックな問題を
迅速に解決します。

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光学式半導体ウェーハ検査装置

半導体製造工程での各種検査装置をラインアップしています。
いずれも高い信頼性・操作性、最小のランニングコストなどで、
高い評価を得ています。

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採用情報

独創的な技術開発にチャレンジする
意欲ある人材を広く募集しています。

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世界標準の創出

ナノ技術で半導体検査・計測の新世界を創造