2025年10月23日

 2025年11月18日(火)~11月21日(金)にドイツミュンヘンのMESSE MÜNCHENにて開催される「SEMICON Europa 2025」に出展いたします。
 今回は東レ、TASMITの共同出展です。
 TASMITでは半導体検査装置INSPECTRA(インスペクトラ)シリーズをメインに、多様なアプリケーションに対応した半導体検査・計測の装置を紹介します。
 また、業界初の両面検査・内部欠陥検査を実現した半導体先端パッケージ向け大型ガラス基板検査装置の展示もいたします。
今回の出展の詳細は以下の通りです。
| 展示会名 | SEMICON Europa 2025 | 
|---|---|
| 会期 | 2025年11月18日(火)~11月21日(金) | 
| 場所 | Messe München ホールC1 ブースC1810 | 
| 公式サイト | https://www.semiconeuropa.org/ | 
| 展示内容 | 光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRAシリーズ 光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA FRシリーズ SiC, GaN向け蛍光検査装置 INSPECTRA PLシリーズ MEMS、SiPh、ASIC向けウェーハ内部欠陥検査装置 INSPECTRA IRシリーズ 重ね合わせ測定装置 OM-7000H 半導体先端パッケージ向け大型ガラス基板検査装置  | 
本 社 : (045)507-3330