2025年12月4日

半導体関連の国際展示会「SEMICON Japan 2025」へ出展

 2025年12月17日(水)~12月19日(金)に東京ビッグサイトにて開催される「SEMICON Japan 2025」に出展いたします。
 今回は東レ、東レ・プレシジョン、東レリサーチセンター、東レエンジニアリング、TASMITの共同出展です。
 TASMITでは半導体検査装置INSPECTRA(インスペクトラ)シリーズをメインに、多様なアプリケーションに対応した半導体検査・計測の装置を紹介します。
 また、業界初の両面検査・内部欠陥検査を実現した半導体先端パッケージ向け大型ガラス基板検査装置の展示もいたします。

 今回の出展の詳細は以下の通りです。

展示会名 SEMICON Japan 2025
会期 2025年12月17日(水)~12月19日(金)
場所 東京ビッグサイト 東ホール4 E4908
公式サイト https://www.semiconjapan.org/jp
展示内容 光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRAシリーズ
光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA FRシリーズ
SiC, GaN向け蛍光検査装置 INSPECTRA PLシリーズ
Mini・Micro LED向け蛍光検査装置 INSPECTRA PLシリーズ
MEMS、SiPh、ASIC向けウェーハ内部欠陥検査装置 INSPECTRA IRシリーズ
重ね合わせ測定装置 OM-7000H
半導体先端パッケージ向け大型ガラス基板検査装置
電子線式半導体ウェーハパターン検査装置 NGRシリーズ
AI学習を使った高精度自動欠陥分類機能 AI-ADC

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