2025年12月4日

2025年12月17日(水)~12月19日(金)に東京ビッグサイトにて開催される「SEMICON Japan 2025」に出展いたします。
今回は東レ、東レ・プレシジョン、東レリサーチセンター、東レエンジニアリング、TASMITの共同出展です。
TASMITでは半導体検査装置INSPECTRA(インスペクトラ)シリーズをメインに、多様なアプリケーションに対応した半導体検査・計測の装置を紹介します。
また、業界初の両面検査・内部欠陥検査を実現した半導体先端パッケージ向け大型ガラス基板検査装置の展示もいたします。
今回の出展の詳細は以下の通りです。
| 展示会名 | SEMICON Japan 2025 |
|---|---|
| 会期 | 2025年12月17日(水)~12月19日(金) |
| 場所 | 東京ビッグサイト 東ホール4 E4908 |
| 公式サイト | https://www.semiconjapan.org/jp |
| 展示内容 | 光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRAシリーズ 光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA FRシリーズ SiC, GaN向け蛍光検査装置 INSPECTRA PLシリーズ Mini・Micro LED向け蛍光検査装置 INSPECTRA PLシリーズ MEMS、SiPh、ASIC向けウェーハ内部欠陥検査装置 INSPECTRA IRシリーズ 重ね合わせ測定装置 OM-7000H 半導体先端パッケージ向け大型ガラス基板検査装置 電子線式半導体ウェーハパターン検査装置 NGRシリーズ AI学習を使った高精度自動欠陥分類機能 AI-ADC |
本 社 : (045)507-3330