ニュース

2023年 12月 5日お知らせ
高倍率な高精度検査において、業界最高の検査速度を実現した
半導体ウエハー外観検査装置「INSPECTRA® SR-Ⅳ」の販売開始
2023年 12月 5日お知らせ
半導体関連の国際展示会「SEMICON Japan 2023」へ出展
2023年 9月 29日お知らせ
半導体関連の国際展示会「SEMICON Taiwan 2023」へ出展
2023年 4月 27日お知らせ
「SPIE Advanced Lithography 2023」にて論文発表
2023年 4月 27日お知らせ
「SPIE Advanced Lithography 2023」にて論文発表

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