2026年10月19日

半導体関連の国際展示会「SEMICON Europa 2026」へ出展

　2026年11月10日(火)～11月13日(金)にドイツ・ミュンヘンのMesse Münchenにて開催される「SEMICON Europa 2026」に出展いたします。

　当社展示パネルでは、半導体検査・計測装置INSPECTRA（インスペクトラ）シリーズのうち、光学式半導体ウェーハ外観検査装置「INSPECTRA SR-Ⅳ」、ウェーハ内部欠陥検査装置「INSPECTRA IRシリーズ」、重ね合わせ測定装置「OM-7000H」をご紹介いたします。

　各装置の特長や、多様な半導体デバイスに対応する検査・計測ソリューションをご紹介いたしますので、ぜひ当社ブースへお立ち寄りください。

　今回の出展の詳細は以下の通りです。

展示会名	SEMICON Europa 2026
会期	2026年11月10日（火）～11月13日（金）
場所	Messe München（ドイツ・ミュンヘン）ブース番号：#B1846
公式サイト	https://portal2026.semiconeuropa.org/home
展示内容	光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA SR-Ⅳ ウェーハ内部欠陥検査装置 INSPECTRA IRシリーズ重ね合わせ測定装置 OM-7000H