2026年9月7日

SiCおよび関連材料に関する国際会議 「ICSCRM 2026」へ出展

 2026年9月28日(月)~10月2日(金)にパシフィコ横浜にて開催される「ICSCRM 2026」に出展いたします。今回も東レリサーチセンターとの共同出展となります。当社ブースでは、半導体検査・計測装置「INSPECTRA(インスペクトラ)」シリーズを中心に、SiCパワーデバイス、シリコンフォトニクス(SiPh)、先端パッケージなど幅広いアプリケーションに対応した検査ソリューションをご紹介いたします。

 今回の出展の詳細は以下の通りです。

展示会名 ICSCRM 2026
会期 2026年9月28日(月)~ 10月2日(金)
場所 パシフィコ横浜ノース (ブース:K-12)
公式サイト https://icscrm2026.org/
展示内容 光学式半導体ウェーハ外観検査装置 INSPECTRA SR-Ⅳ
半導体先端パッケージ向け大型ガラス基板検査装置
パワーデバイス(SiC, GaN)向け蛍光検査装置 INSPECTRA PLシリーズ
MEMS、SiPh、ASIC向けウェーハ内部欠陥検査装置 INSPECTRA IRシリーズ
重ね合わせ測定装置 OM-7000H