FPD用異物検査装置 HS-830

概要

異物検査装置“HS-830”は業界初のサブミクロン感度異物検査装置HS-730と同様に、当社独自の光学技術を採用したガラス基板上の異物検査装置で、従来比約1/4の高速検査を実現しています。

特徴

検出原理

検出原理説明図

操作画面

操作画面詳細

仕様

型式 HS-830
検出方式 レーザ散乱結像方式
検出項目 ガラス、クロム、ITO 基板上の異物の個数・位置・SML クラス分け・異物検出マップ・ヒストグラム
対応基板サイズ&
実検査時間
(高速検査モード時:
1μm感度)
400mm × 520mm : 24sec
600mm × 720mm : 41sec
730mm × 920mm : 55sec
1100mm × 1300mm : 86sec
1600mm × 1800mm : 144sec
検査感度 0.3μm(標準粒子散布基板)
空間分解能 30μm□
表裏分離性能 20μm(t=1.1mm)
16μm(t=0.7mm)
レビュー機能 標準装備

オプション

ガラス基板用異物検査装置 HS-830
検査
ガラス応力測定装置 KMS-5000
FPD用異物検査装置 HS-830
表面形状測定装置 SP-700/500
お電話による問い合わせ先
エレクトロニクス事業本部
DP営業部 MED課
瀬田 (077)544-1635
DP営業部 FPD課
瀬田 (077)544-1635
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